Предназначены для измерений толщины неферромагнитных диэлектрических покрытий на электропроводящих неферромагнитных основаниях (вихретоковым методом) и толщины неферромагнитных покрытий (электропроводящих и диэлектрических) на электропроводящих ферромагнитных основаниях (магнитоиндукционным методом). Диапазон измерений толщины покрытий: 10...3000мкм. Допускаемая основная абсолютная погрешность: не более ±(10+0,01∙H)мкм, где H - измеренное значение толщины покрытия, мкм. Цена единицы младшего разряда: 1мкм. Напряжение питания: 1,5В (элемент ААА). Ток потребления в режиме измерений: не более 60мА. Размеры основания: не менее 1х30х42мм. Значение шероховатости поверхности основания: не более 80мкм. Габаритные размеры: 106х44х30мм. Масса (без элемента питания): 0,06кг. Температура окружающего воздуха: -25...+40˚С. Относительная влажность: не более 80%.
Видео отсутствует
