Предназначен для обнаружения дефектов в намагниченных ферромагнитных деталях, в том числе в сварных конструкциях, измерения градиента напряженности постоянного магнитного поля и тангенциальной составляющей напряженности постоянного и переменного магнитного поля, частоты переменного магнитного поля, а также визуализации процесса контроля на графическом дисплее. Диапазон измерений градиента напряженности постоянного магнитного поля от ± 1000 до ± 200000 А/м2. Диапазон измерений тангенциальной составляющей напряженности постоянного магнитного поля от ± 10 до ± 3000 А/м. Размеры выявляемых искусственных поверхностных дефектов: ширина не менее 0,002 мм, глубина не менее 0,1 мм, длина не менее 2 мм.
Видео отсутствует
