Предназначен для обнаружения расслоений в слоистых пластиках и выявления дефектов соединений (преимущественно клеевых) в многослойных конструкциях из различных полимерных композиционных материалов и металлов, применяемых в различных сочетаниях. Отличительные особенности: диапазон контролируемых материалов: от стали до пенопласта, односторонний доступ, сухой контакт преобразователей с контролируемым объектом. Глубина выявляемых дефектов в стеклопластике 12-15 мм, минимальная площадь обнаруживаемого дефекта 1 см2.
Видео отсутствует
